Asidik bileşiklerin saflaştırılmasında sepaflash güçlü anyon değişim kromatografisi kolonlarının uygulanması

Sonuçlar ve tartışma

İlk olarak, numune karışımı, normal silika ile önceden paketlenmiş normal fazlı bir flaş kartuşu ile ayrıldı. Şekil 3'te gösterildiği gibi, numunedeki iki bileşen birbiri ardına kartuştan elüte edildi. Daha sonra, numunenin saflaştırılması için bir SAX flaş kartuşu kullanıldı. Şekil 4'te gösterildiği gibi, asidik bileşen B saksafon kartuşunda tamamen tutuldu. Nötr bileşen A, mobil fazın elüsyonu ile yavaş yavaş kartuştan elüte edildi.

Şekil 3. Numunenin normal bir normal faz kartuşu üzerinde flaş kromatogramı.

Şekil 4. Bir saksafon kartuşu üzerindeki numunenin flaş kromatogramı.
Şekil 3 ve Şekil 4'ü karşılaştıran bileşen, iki farklı flaş kartuşunda tutarsız tepe şekle sahiptir. Elüsyon zirvesinin bileşene karşılık gelip gelmediğini doğrulamak için, Sepabean ™ makinesinin kontrol yazılımına yerleştirilmiş tam dalga boyu tarama özelliğini kullanabiliriz. İki ayırmanın deneysel verilerini açın, kromatogramdaki zaman ekseninde (CV) gösterge çizgisine sürükle A bileşenine karşılık gelen elüsyon tepe noktasının en yüksek noktasına ve ikinci en yüksek noktasına ve bu iki noktanın tam dalga boyu spektrumu kromatogramın altında otomatik olarak gösterilecektir (Şekil 5 ve Şekil 6'da gösterildiği gibi). Bu iki ayırmanın tam dalga boyu spektrum verilerini karşılaştırarak, A bileşeni iki deneyde tutarlı absorpsiyon spektrumuna sahiptir. A bileşeninin nedeni nedeniyle, iki farklı flaş kartuşunda tutarsız tepe şekli vardır, bileşen A'da normal faz kartuşu ve saksafon kartuşunda farklı tutulmaya sahip özel bir safsızlık olduğu tahmin edilmektedir. Bu nedenle, eluting sekansı bileşen A ve bu iki flaş kartuşundaki safsızlık için farklıdır, bu da kromatogramlarda tutarsız tepe şekli ortaya çıkar.

Şekil 5. A bileşeninin tam dalga boyu spektrumu ve normal faz kartuşu ile ayrılmış safsızlık.

Şekil 6. A bileşeninin tam dalga boyu spektrumu ve saksafon kartuşu ile ayrılan safsızlık.

Toplanacak hedef ürün nötr bileşen A ise, saflaştırma görevi, numune yüklemesinden sonra elüsyon için SAX kartuşunu doğrudan kullanılarak kolayca tamamlanabilir. Öte yandan, toplanacak hedef ürün asidik bileşen B ise, yakalama salgılama tarzı, deney adımlarında sadece hafif bir ayarla benimsenebilir: numune saksafon kartuşuna yüklendiğinde ve nötr bileşen A normal faz organik çözeltileri ile tamamen elüte edildiğinde, mobil fazı 5% asetik asit içeren metanol çözeltisine dönüştürün. Mobil fazdaki asetat iyonları, saksafon kartuşunun sabit fazındaki kuaterner amin iyon gruplarına bağlanma için B bileşeni B ile rekabet edecektir, böylece hedef ürünü elde etmek için B bileşenini kartuştan temizleyecektir. İyon değişim modunda ayrılan numunenin kromatogramı Şekil 7'de gösterilmiştir.

Şekil 7. Bir saksafon kartuşunda iyon değişim modunda elüte edilen B bileşeninin flaş kromatogramı.

Sonuç olarak, asidik veya nötr numune, farklı saflaştırma stratejileri kullanılarak normal faz kartuşu ile birleştirilmiş saksafon kartuşu ile hızla saflaştırılabilir. Ayrıca, Sepabean ™ makinesinin kontrol yazılımına yerleştirilmiş tam dalga boyu tarama özelliğinin yardımıyla, elüte edilmiş fraksiyonların karakteristik emme spektrumu kolayca karşılaştırılabilir ve doğrulanabilir, araştırmacıların elüte fraksiyonların bileşimini ve saflığını hızlı bir şekilde belirlemelerine ve böylece iş verimliliğini artırmalarına yardımcı olabilir.