அமில சேர்மங்களின் சுத்திகரிப்பில் செபாஃப்ளாஷ் வலுவான அனியன் பரிமாற்ற குரோமடோகிராபி நெடுவரிசைகளின் பயன்பாடு

முடிவுகள் மற்றும் கலந்துரையாடல்

முதலாவதாக, மாதிரி கலவை வழக்கமான சிலிக்காவுடன் முன்கூட்டியே நிரம்பிய ஒரு சாதாரண கட்ட ஃப்ளாஷ் கார்ட்ரிட்ஜ் மூலம் பிரிக்கப்பட்டது. படம் 3 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, மாதிரியில் உள்ள இரண்டு கூறுகளும் கெட்டியிலிருந்து ஒன்றன்பின் ஒன்றாக நீக்கப்பட்டன. அடுத்து, மாதிரியின் சுத்திகரிப்புக்கு ஒரு சாக்ஸ் ஃபிளாஷ் கெட்டி பயன்படுத்தப்பட்டது. படம் 4 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி, அமில கூறு B சாக்ஸ் கார்ட்ரிட்ஜில் முழுமையாக தக்கவைக்கப்பட்டது. மொபைல் கட்டத்தை நீக்குவதன் மூலம் நடுநிலை கூறு A படிப்படியாக கெட்டியிலிருந்து நீக்கப்பட்டது.

படம் 3. வழக்கமான சாதாரண கட்ட கெட்டி மீது மாதிரியின் ஃபிளாஷ் குரோமடோகிராம்.

படம் 4. ஒரு சாக்ஸ் கெட்டி மீது மாதிரியின் ஃபிளாஷ் குரோமடோகிராம்.
படம் 3 மற்றும் படம் 4 ஐ ஒப்பிடுகையில், A கூறு இரண்டு வெவ்வேறு ஃபிளாஷ் தோட்டாக்களில் சீரற்ற உச்ச வடிவத்தைக் கொண்டுள்ளது. நீக்குதல் உச்சநிலை கூறுக்கு ஒத்ததாக இருக்கிறதா என்பதை உறுதிப்படுத்த, செபபீன் ™ இயந்திரத்தின் கட்டுப்பாட்டு மென்பொருளில் கட்டமைக்கப்பட்ட முழு அலைநீள ஸ்கேனிங் அம்சத்தை நாம் பயன்படுத்தலாம். இரண்டு பிரிவினைகளின் சோதனைத் தரவைத் திறந்து, குரோமடோகிராமில் உள்ள நேர அச்சில் (சி.வி) காட்டி வரிக்கு மிக உயர்ந்த புள்ளியாகவும், A உடன் தொடர்புடைய எலியூஷன் உச்சத்தின் இரண்டாவது மிக உயர்ந்த புள்ளியாகவும் இழுக்கவும், மேலும் இந்த இரண்டு புள்ளிகளின் முழு அலைநீள நிறமாலை தானாகவே குரோமடோகிராமிற்குக் கீழே காட்டப்படும் (படம் 5 மற்றும் படம் 6 இல் காட்டப்பட்டுள்ளபடி). இந்த இரண்டு பிரிவினைகளின் முழு அலைநீள ஸ்பெக்ட்ரம் தரவை ஒப்பிடுகையில், A கூறு இரண்டு சோதனைகளில் நிலையான உறிஞ்சுதல் நிறமாலையைக் கொண்டுள்ளது. A கூறுகளின் காரணத்திற்காக இரண்டு வெவ்வேறு ஃபிளாஷ் தோட்டாக்களில் சீரற்ற உச்ச வடிவத்தைக் கொண்டுள்ளது, A கூறுகளில் குறிப்பிட்ட தூய்மையற்ற தன்மை இருப்பதாக ஊகிக்கப்படுகிறது, இது சாதாரண கட்ட கெட்டி மற்றும் SAX கார்ட்ரிட்ஜ் மீது வேறுபட்ட தக்கவைப்பைக் கொண்டுள்ளது. ஆகையால், எலுட்டிங் வரிசை A கூறு A மற்றும் இந்த இரண்டு ஃபிளாஷ் தோட்டாக்களின் தூய்மையற்ற தன்மைக்கு வேறுபட்டது, இதன் விளைவாக குரோமடோகிராம்களில் சீரற்ற உச்ச வடிவம் உருவாகிறது.

படம் 5. A கூறுகளின் முழு அலைநீள நிறமிப்பு மற்றும் சாதாரண கட்ட கெட்டி மூலம் பிரிக்கப்பட்ட தூய்மையற்றது.

படம் 6. A கூறுகளின் முழு அலைநீள நிறமிப்பு மற்றும் சாக்ஸ் கார்ட்ரிட்ஜால் பிரிக்கப்பட்ட தூய்மையற்ற தன்மை.

சேகரிக்கப்பட வேண்டிய இலக்கு தயாரிப்பு நடுநிலை கூறு A என்றால், மாதிரி ஏற்றுதலுக்குப் பிறகு நீக்குவதற்கு SAX கார்ட்ரிட்ஜை நேரடியாகப் பயன்படுத்துவதன் மூலம் சுத்திகரிப்பு பணியை எளிதாக முடிக்க முடியும். மறுபுறம், சேகரிக்கப்பட வேண்டிய இலக்கு தயாரிப்பு அமிலக் கூறு B ஆக இருந்தால், பிடிப்பு-வெளியீட்டு முறையை சோதனை படிகளில் ஒரு சிறிய சரிசெய்தலுடன் மட்டுமே ஏற்றுக்கொள்ள முடியும்: மாதிரி SAX கார்ட்ரிட்ஜில் ஏற்றப்பட்டு, நடுநிலை கூறு A சாதாரண கட்ட ஆர்கானிக் கரைப்பான்களுடன் முற்றிலும் நீக்கப்பட்டது, மொபைல் கட்டத்தை 5% அசிட்டிக் அமிலத்திற்கு மெத்தனால் கரைசலுக்கு மாற்றவும். மொபைல் கட்டத்தில் உள்ள அசிடேட் அயனிகள் சாக்ஸ் கார்ட்ரிட்ஜின் நிலையான கட்டத்தில் குவாட்டர்னரி அமீன் அயன் குழுக்களுடன் பிணைப்பதற்கான கூறு B உடன் போட்டியிடும், இதன் மூலம் இலக்கு உற்பத்தியைப் பெறுவதற்காக கார்ட்ரிட்ஜிலிருந்து B கூறுகளை நீக்குகிறது. அயன் பரிமாற்ற பயன்முறையில் பிரிக்கப்பட்ட மாதிரியின் குரோமடோகிராம் படம் 7 இல் காட்டப்பட்டுள்ளது.

படம் 7. ஒரு சாக்ஸ் கார்ட்ரிட்ஜில் அயன் பரிமாற்ற பயன்முறையில் நீக்கப்பட்ட கூறின் ஃபிளாஷ் குரோமடோகிராம்.

முடிவில், அமில அல்லது நடுநிலை மாதிரியை சாக்ஸ் கார்ட்ரிட்ஜ் மூலம் விரைவாக சுத்திகரிக்க முடியும், இது வெவ்வேறு சுத்திகரிப்பு உத்திகளைப் பயன்படுத்தி சாதாரண கட்ட கெட்டி. மேலும், செபாபியன் ™ இயந்திரத்தின் கட்டுப்பாட்டு மென்பொருளில் கட்டமைக்கப்பட்ட முழு அலைநீள ஸ்கேனிங் அம்சத்தின் உதவியுடன், நீக்கப்பட்ட பின்னங்களின் சிறப்பியல்பு உறிஞ்சுதல் ஸ்பெக்ட்ரம் எளிதில் ஒப்பிட்டு உறுதிப்படுத்தப்படலாம், ஆராய்ச்சியாளர்கள் நீக்கப்பட்ட பின்னங்களின் கலவை மற்றும் தூய்மையை விரைவாக தீர்மானிக்க உதவுகிறது, இதனால் வேலை திறனை மேம்படுத்துகிறது.