FAQ

불순물을 제거하기 위해 솔벤트 필터 헤드를 완전히 청소하십시오. 초음파 청소를 사용하는 것이 가장 좋습니다.

1. 검출기의 흐름 셀을 오염시켰다.

2. 광원의 낮은 에너지.

3. 펌프 펄스의 영향.

4. 검출기의 온도 효과.

5. 테스트 풀에 거품이 있습니다.

6. 열 또는 이동상 오염.

분포 된 크로마토 그래피에서, 소량의 기준 노이즈는 분리에 거의 영향을 미치지 않습니다.

1. 기계 뒷면의 튜브 커넥터가 느슨하거나 손상되었습니다. 튜브 커넥터를 교체하십시오.

2. 가스 웨이 체크 밸브가 손상되었습니다. 체크 밸브를 교체하십시오.

분리 후, 실험 기록의 무결성을 보장하기 위해 종료하기 전에 3-5 분 동안 기다려야합니다.

컬럼 평형은 컬럼을 통해 용매를 빠르게 플러싱 할 때 발열 효과에 의해 컬럼이 손상되지 않도록 보호 할 수 있습니다. 분리 실행 중에 처음으로 용매에 의해 접촉하는 컬럼에서 건조 실리카가 포장 된 반면, 특히 용매가 높은 유속으로 플러시 될 때 많은 열이 방출 될 수 있습니다. 이 열은 기둥체가 변형되어 기둥으로부터의 용매 누출을 유발할 수있다. 경우에 따라이 열은 열 감지 샘플을 손상시킬 수 있습니다.

펌프의 회전 샤프트에서 윤활유가 없기 때문에 발생할 수 있습니다.

시스템 튜브, 코네터 및 혼합 챔버의 총 부피는 약 25ml입니다.

검출기 모듈의 유량 셀은 강한 UV 흡수를 갖는 샘플에 의해 오염된다. 또는 정상적인 현상 인 용매 UV 흡수로 인한 것일 수 있습니다. 다음 작업을 수행하십시오.

1. 플래시 컬럼을 제거하고 강한 극성 용매로 시스템 튜브를 플러시 한 다음 약한 극성 용매를 씻어냅니다.

2. 용매 UV 흡수 문제 : 예를 들어, N- 헥산 및 디클로로 메탄 (DCM)이 용리하는 용매로 사용되는 반면, DCM의 비율이 증가함에 따라, 크로마토 그램의 기준선은 254 NM에서 DCM의 흡수가 N- 헥타 산의 흡수보다 낮기 때문에 Y 축에서 0보다 낮을 수있다. 이 현상이 발생하는 경우 Sepabean 앱의 분리 실행 페이지에서 "0"버튼을 클릭하여 처리 할 수 ​​있습니다.

3. 검출기 모듈의 유량 셀은 크게 오염되며 초음파로 청소해야합니다.

컬럼 홀더 헤드의 커넥터와베이스 부품의 커넥터가 용매에 의해 팽창하여 커넥터가 붙어 있기 때문일 수 있습니다.

사용자는 약간의 힘을 사용하여 컬럼 홀더 헤드를 수동으로 들어 올릴 수 있습니다. 열 홀더 헤드가 특정 높이까지 들어 올리면 버튼을 터치하여 열 홀더 헤드를 이동할 수 있어야합니다. 열 홀더 헤드를 수동으로 들어 올릴 수없는 경우 사용자는 로컬 기술 지원에 문의해야합니다.

비상 대안 방법 : 사용자는 대신 열 홀더 헤드 상단에 열을 설치할 수 있습니다. 액체 샘플을 컬럼에 직접 주입 할 수 있습니다. 솔리드 샘플 로딩 컬럼은 분리 열 상단에 설치할 수 있습니다.

1. 광원의 낮은 에너지;

2. 순환 풀이 오염된다. 직관적으로, 스펙트럼 피크가 없거나 분리에서 스펙트럼 피크가 작고, 에너지 스펙트럼은 25%미만의 값을 나타낸다.

30 분 동안 적절한 용매로 튜브를 세척하고 에너지 스펙트럼을 관찰하십시오. 스펙트럼에 변화가 없으면 광원의 에너지가 낮은 것으로 보이면 중수소 램프를 교체하십시오. 스펙트럼이 변경되면 순환 풀이 오염되어 적절한 용매로 계속 청소하십시오.

튜브와 커넥터를 정기적으로 확인하십시오.

에틸 아세테이트는 245nm보다 낮은 검출 범위에서 강한 흡수를 갖기 때문에 검출 파장은 245nm보다 낮은 웨로 설정된다. 에틸 아세테이트가 용화 용매로 사용될 때 기준선 표류는 가장 지배적이며, 검출 파장으로 220 nm를 선택합니다.

감지 파장을 변경하십시오. 검출 파장으로 254nm를 선택하는 것이 좋습니다. 220 nm이 샘플 검출에 적합한 유일한 파장 인 경우, 사용자는 신중하게 판단하여 용리액을 수집해야 하며이 경우 과도한 용매가 수집 될 수 있습니다.