ફાજલ

કોઈપણ અશુદ્ધિઓ દૂર કરવા માટે દ્રાવક ફિલ્ટર હેડને સંપૂર્ણપણે સાફ કરો, અલ્ટ્રાસોનિક સફાઇનો ઉપયોગ કરવો શ્રેષ્ઠ છે.

1. ડિટેક્ટરનો ફ્લો સેલ પ્રદૂષિત હતો.

2. પ્રકાશ સ્રોતની ઓછી energy ર્જા.

3. પમ્પ પલ્સનો પ્રભાવ.

4. ડિટેક્ટરની તાપમાન અસર.

5. પરીક્ષણ પૂલમાં પરપોટા છે.

6. ક column લમ અથવા મોબાઇલ તબક્કો દૂષણ.

પ્રારંભિક ક્રોમેટોગ્રાફીમાં, બેઝલાઇન અવાજની થોડી માત્રામાં અલગ થવા પર થોડી અસર પડે છે.

1. મશીનની પાછળના ભાગમાં ટ્યુબ કનેક્ટર છૂટક અથવા ક્ષતિગ્રસ્ત છે; ટ્યુબ કનેક્ટરને બદલો;

2. ગેસ વે ચેક વાલ્વને નુકસાન થયું છે. ચેક વાલ્વ બદલો.

અલગ થયા પછી, પ્રયોગ રેકોર્ડની અખંડિતતાને સુનિશ્ચિત કરવા માટે બંધ કરતા પહેલા 3-5 મિનિટ રાહ જોવી જરૂરી છે.

ક column લમ સંતુલન ક column લમ દ્વારા ઝડપથી ફ્લશિંગ કરતી વખતે એક્ઝોથર્મિક અસર દ્વારા ક column લમને નુકસાન થવાનું રક્ષણ કરી શકે છે. જ્યારે ડ્રાય સિલિકા ક column લમમાં પ્રી-પેક્ડ હોય છે જ્યારે દ્રાવક દ્વારા પ્રથમ વખત અલગ થવાના દોડ દરમિયાન સંપર્ક કરવામાં આવે છે, ત્યારે ઘણી ગરમી ખાસ કરીને જ્યારે દ્રાવક flow ંચા પ્રવાહ દરમાં ફ્લશ થાય છે ત્યારે પ્રકાશિત થઈ શકે છે. આ ગરમીથી ક column લમ બોડી ડિફોર્મ થઈ શકે છે અને આ રીતે ક column લમમાંથી દ્રાવક લિકેજ થઈ શકે છે. કેટલાક કિસ્સાઓમાં, આ ગરમી ગરમીના સંવેદનશીલ નમૂનાને પણ નુકસાન પહોંચાડે છે.

તે કદાચ પંપના ફરતા શાફ્ટ પર લ્યુબ્રિકેટિંગ તેલના અભાવને કારણે થઈ શકે છે.

સિસ્ટમ ટ્યુબિંગ, કનેટર્સ અને મિક્સિંગ ચેમ્બરનું કુલ વોલ્યુમ લગભગ 25 મિલી જેટલું છે.

ડિટેક્ટર મોડ્યુલનો ફ્લો સેલ નમૂના દ્વારા દૂષિત છે જેમાં મજબૂત યુવી શોષણ છે. અથવા તે દ્રાવક યુવી શોષણને કારણે હોઈ શકે છે જે સામાન્ય ઘટના છે. કૃપા કરીને નીચે આપેલ ઓપરેશન કરો:

1. ફ્લેશ ક column લમ દૂર કરો અને સિસ્ટમ ટ્યુબિંગને મજબૂત ધ્રુવીય દ્રાવકથી ફ્લશ કરો પછી નબળાઇ ધ્રુવીય દ્રાવક દ્વારા.

2. દ્રાવક યુવી શોષણ સમસ્યા: દા.ત. જ્યારે એન-હેક્સાન અને ડિક્લોરોમેથેન (ડીસીએમ) એલ્યુટીંગ સોલવન્ટ તરીકે કાર્યરત છે, જેમ કે ડીસીએમનું પ્રમાણ વધે છે, ક્રોમેટોગ્રામની બેઝલાઇન y-xis પર શૂન્યથી નીચે રહી શકે છે કારણ કે 254 એનએમ પર ડીસીએમનું શોષણ એ એન-હેક્સેન કરતા ઓછું છે. આ ઘટના થાય છે તે કિસ્સામાં, અમે તેને સેપબીન એપ્લિકેશનમાં અલગતા ચાલતા પૃષ્ઠ પર "શૂન્ય" બટનને ક્લિક કરીને હેન્ડલ કરી શકીએ છીએ.

3. ડિટેક્ટર મોડ્યુલનો ફ્લો સેલ ભારે દૂષિત છે અને તેને અલ્ટ્રાસોનિકલી સાફ કરવાની જરૂર છે.

તે કદાચ ક column લમ ધારકના વડા અને આધાર ભાગ પરના કનેક્ટર્સને દ્રાવક દ્વારા ઝડપી પાડવામાં આવે છે જેથી કનેક્ટર્સ અટવાઇ જાય.

વપરાશકર્તા થોડુંક બળનો ઉપયોગ કરીને ક column લમ ધારકને મેન્યુઅલી ઉપાડી શકે છે. જ્યારે ક column લમ ધારકનું માથું ચોક્કસ height ંચાઇ સુધી ઉપાડવામાં આવે છે, ત્યારે ક column લમ ધારક હેડ તેના પરના બટનોને સ્પર્શ કરીને ખસેડવામાં સમર્થ હોવા જોઈએ. જો ક column લમ ધારક હેડને મેન્યુઅલી ઉપાડી શકાતું નથી, તો વપરાશકર્તાએ સ્થાનિક તકનીકી સપોર્ટનો સંપર્ક કરવો જોઈએ.

ઇમરજન્સી વૈકલ્પિક પદ્ધતિ: વપરાશકર્તા તેના બદલે ક column લમ ધારકના માથાની ટોચ પર ક column લમ ઇન્સ્ટોલ કરી શકે છે. પ્રવાહી નમૂનાને સીધા સ્તંભ પર ઇન્જેક્ટ કરી શકાય છે. સોલિડ નમૂના લોડિંગ ક column લમ અલગ ક column લમની ટોચ પર ઇન્સ્ટોલ કરી શકાય છે.

1. પ્રકાશ સ્રોતની ઓછી energy ર્જા;

2. પરિભ્રમણ પૂલ પ્રદૂષિત છે; સાહજિક રીતે, ત્યાં કોઈ સ્પેક્ટ્રલ શિખર નથી અથવા સ્પેક્ટ્રલ પીક અલગ થવામાં નાનો છે, energy ર્જા સ્પેક્ટ્રા 25%કરતા ઓછી કિંમત દર્શાવે છે.

કૃપા કરીને 30 મિનિટ માટે 10 એમએલ/મિનિટ પર યોગ્ય દ્રાવક સાથે ટ્યુબને ફ્લશ કરો અને energy ર્જા સ્પેક્ટ્રમનું નિરીક્ષણ કરો. જો સ્પેક્ટ્રમમાં કોઈ ફેરફાર ન થાય, તો તે પ્રકાશ સ્રોતની ઓછી energy ર્જા લાગે છે, કૃપા કરીને ડ્યુટેરિયમ લેમ્પને બદલો; જો સ્પેક્ટ્રમ બદલાયું, તો પરિભ્રમણ પૂલ પ્રદૂષિત થાય છે - કૃપા કરીને યોગ્ય દ્રાવક સાથે સાફ કરવાનું ચાલુ રાખો.

કૃપા કરીને નિયમિતપણે ટ્યુબ અને કનેક્ટર તપાસો.

તપાસ તરંગલંબાઇ 245 એનએમ કરતા ઓછી તરંગ લંબાઈ પર સેટ કરેલી છે કારણ કે ઇથિલ એસિટેટ 245nm કરતા ઓછી તપાસ શ્રેણીમાં મજબૂત શોષણ ધરાવે છે. જ્યારે ઇથિલ એસિટેટનો ઉપયોગ ઇલ્યુટીંગ સોલવન્ટ તરીકે કરવામાં આવે છે અને અમે 220 એનએમ શોધવાની તરંગલંબાઇ તરીકે પસંદ કરીએ છીએ ત્યારે બેઝલાઇન ડ્રિફ્ટિંગ સૌથી પ્રબળ હશે.

કૃપા કરીને તપાસ તરંગલંબાઇ બદલો. તપાસ તરંગલંબાઇ તરીકે 254nm પસંદ કરવાની ભલામણ કરવામાં આવે છે. જો નમૂના તપાસ માટે 220 એનએમ એકમાત્ર તરંગલંબાઇ છે, તો વપરાશકર્તાએ કાળજીપૂર્વક ચુકાદા સાથે એલ્યુએન્ટ એકત્રિત કરવો જોઈએ અને આ કિસ્સામાં વધુ પડતા દ્રાવક એકત્રિત કરવામાં આવશે.