Rui Huang, Bo Xu
Tətbiq Ar-Ge Mərkəzi
Giriş
İon mübadiləsi xromatoqrafiyası (IEC) məhlulda ion şəklində təqdim olunan birləşmələri ayırmaq və təmizləmək üçün geniş istifadə olunan xromatoqrafik bir üsuldur.Mübadilə edilə bilən ionların müxtəlif yük vəziyyətlərinə görə IEC iki növə bölünə bilər: kation mübadiləsi xromatoqrafiyası və anion mübadiləsi xromatoqrafiyası.Kation mübadiləsi xromatoqrafiyasında turşu qrupları ayırıcı mühitin səthinə bağlanır.Məsələn, sulfon turşusu (-SO3H) güclü kation mübadiləsində (SCX) tez-tez istifadə olunan qrupdur, H+-nı dissosiasiya edir və mənfi yüklü qrup -SO3- beləliklə məhluldakı digər kationları adsorbsiya edə bilir.Anion mübadiləsi xromatoqrafiyasında qələvi qruplar ayırıcı mühitin səthinə bağlanır.Məsələn, dördüncü amin (-NR3OH, burada R karbohidrogen qrupudur) adətən güclü anion mübadiləsində (SAX) istifadə olunur, OH- və müsbət yüklü qrup -N+R3 məhluldakı digər anionları adsorbsiya edə bilir, nəticədə anion yaranır. mübadilə effekti.
Təbii məhsullar arasında flavonoidlər ürək-damar xəstəliklərinin qarşısının alınması və müalicəsində roluna görə tədqiqatçıların diqqətini cəlb etmişdir.Flavonoid molekulları fenolik hidroksil qruplarının olması səbəbindən turşu olduğundan, bu turşu birləşmələrin ayrılması və təmizlənməsi üçün adi normal faza və ya tərs faza xromatoqrafiyasına əlavə olaraq ion mübadiləsi xromatoqrafiyası alternativ variantdır.Flaş xromatoqrafiyasında ion mübadiləsi üçün ümumi istifadə edilən ayırma mühiti ion mübadiləsi qruplarının onun səthinə bağlandığı silisium gel matrisidir.Flaş xromatoqrafiyasında ən çox istifadə edilən ion mübadiləsi rejimləri SCX (adətən sulfon turşusu qrupu) və SAX (adətən dördüncü amin qrupu) olur.Santai Technologies tərəfindən “SepaFlash Güclü Kation Mübadilə Xromatoqrafiya Sütunlarının Qələvi birləşmələrin təmizlənməsində tətbiqi” başlığı ilə əvvəllər dərc edilmiş ərizə qeydində qələvi birləşmələrin təmizlənməsi üçün SCX sütunları istifadə edilmişdir.Bu yazıda asidik birləşmələrin təmizlənməsində SAX sütunlarının tətbiqini araşdırmaq üçün nümunə kimi neytral və turşu standartlarının qarışığından istifadə edilmişdir.
Eksperimental bölmə
Şəkil 1. SAX ayırıcı mühitin səthinə bağlanmış stasionar fazanın sxematik diaqramı.
Bu yazıda dördüncü dərəcəli aminlə bağlanmış silisium ilə əvvəlcədən qablaşdırılmış SAX sütunu istifadə edilmişdir (Şəkil 1-də göstərildiyi kimi).Təmizlənəcək nümunə kimi Xromon və 2,4-dihidroksibenzoy turşusunun qarışığı istifadə edilmişdir (Şəkil 2-də göstərildiyi kimi).Qarışıq metanolda həll edildi və injektor vasitəsilə flaş kartuşuna yükləndi.Fleş təmizləyicinin eksperimental quruluşu Cədvəl 1-də verilmişdir.
Şəkil 2. Nümunə qarışığındakı iki komponentin kimyəvi quruluşu.
| Alət | SepaBean™ maşını T | |||||
| Patronlar | 4 q SepaFlash Standard Series flaş kartric (düzgün olmayan silisium, 40 - 63 μm, 60 Å, Sifariş nömrəsi: S-5101-0004) | 4 q SepaFlash Bonded Series SAX flaş kartric (düzgün olmayan silisium, 40 - 63 μm, 60 Å, Sifariş nömrəsi: SW-5001-004-IR) | ||||
| Dalğa uzunluğu | 254 nm (aşkar), 280 nm (monitorinq) | |||||
| Mobil mərhələ | Həlledici A: N-heksan | |||||
| Həlledici B: Etil asetat | ||||||
| Axın | 30 ml/dəq | 20 ml/dəq | ||||
| Nümunə yüklənməsi | 20 mq (komponent A və B komponentinin qarışığı) | |||||
| Qradient | Vaxt (CV) | Həlledici B (%) | Vaxt (CV) | Həlledici B (%) | ||
| 0 | 0 | 0 | 0 | |||
| 1.7 | 12 | 14 | 100 | |||
| 3.7 | 12 | / | / | |||
| 16 | 100 | / | / | |||
| 18 | 100 | / | / | |||
Nəticələr və Müzakirə
Əvvəlcə nümunə qarışığı adi silisium oksidi ilə əvvəlcədən qablaşdırılmış normal fazalı flaş kartuşla ayrıldı.Şəkil 3-də göstərildiyi kimi, nümunədəki iki komponent bir-birinin ardınca kartuşdan çıxarıldı.Sonra nümunənin təmizlənməsi üçün SAX flaş kartricindən istifadə edilmişdir.Şəkil 4-də göstərildiyi kimi, turşulu B komponenti SAX kartricində tamamilə saxlanılıb.Neytral komponent A mobil fazanın elüsyonu ilə tədricən kartuşdan çıxarıldı.
Şəkil 3. Adi normal fazalı patronda nümunənin flaş xromatoqramı.
Şəkil 4. SAX kartricindəki nümunənin flaş xromatoqramı.
Şəkil 3 və Şəkil 4-ü müqayisə etdikdə, A Komponenti iki fərqli flaş kartricdə uyğun olmayan pik formasına malikdir.Elüsyon pikinin komponentə uyğun olub-olmadığını təsdiqləmək üçün biz SepaBean™ maşınının idarəetmə proqramında quraşdırılmış tam dalğa boyu skan etmə funksiyasından istifadə edə bilərik.İki ayırmanın eksperimental məlumatlarını açın, xromatoqramda zaman oxundakı (CV) göstərici xəttinə A Komponentinə uyğun gələn elüsiya pikinin ən yüksək nöqtəsinə və ikinci ən yüksək nöqtəsinə və bu ikisinin tam dalğa uzunluğu spektrinə sürükləyin. nöqtələr avtomatik olaraq xromatoqramın altında göstəriləcək (Şəkil 5 və Şəkil 6-da göstərildiyi kimi).Bu iki ayrılığın tam dalğa uzunluğu spektri məlumatlarını müqayisə etdikdə, A Komponenti iki təcrübədə ardıcıl udma spektrinə malikdir.Komponent A iki fərqli flaş kartricdə uyğun olmayan pik formasına malik olduğuna görə, A Komponentində normal fazalı kartuşda və SAX kartricində fərqli tutma xüsusiyyətinə malik xüsusi çirkin olduğu güman edilir.Buna görə də, elütasiya ardıcıllığı A Komponenti və bu iki flaş kartricdəki çirk üçün fərqlidir, nəticədə xromatoqramlarda uyğun olmayan pik forması yaranır.
Şəkil 5. A Komponentinin tam dalğa uzunluğu spektri və normal fazalı kartuşla ayrılmış çirk.
Şəkil 6. Komponent A-nın tam dalğa uzunluğu spektri və SAX kartrici ilə ayrılmış çirk.
Əgər toplanacaq hədəf məhsul neytral Komponent A olarsa, nümunə yükləndikdən sonra elüsyon üçün birbaşa SAX kartricindən istifadə etməklə təmizləmə tapşırığı asanlıqla tamamlana bilər.Digər tərəfdən, toplanacaq hədəf məhsul turşulu B komponentidirsə, tutma-buraxma üsulu eksperimental addımlarda yalnız cüzi tənzimləmə ilə qəbul edilə bilər: nümunə SAX kartricinə və neytral A Komponentinə yükləndikdə normal fazalı üzvi həlledicilərlə tamamilə yuyuldu, mobil fazı 5% sirkə turşusu olan metanol məhluluna keçirin.Mobil fazadakı asetat ionları SAX patronunun stasionar fazasında dördüncü amin ion qruplarına bağlanmaq üçün Komponent B ilə rəqabət aparacaq və bununla da hədəf məhsulu əldə etmək üçün B Komponentini kartuşdan çıxaracaq.İon mübadiləsi rejimində ayrılmış nümunənin xromatoqramı Şəkil 7-də göstərilmişdir.
Şəkil 7. Komponent B-nin SAX kartricində ion mübadiləsi rejimində elüsiya edilmiş flaş xromatoqramı.
Nəticə olaraq, turşu və ya neytral nümunə müxtəlif təmizləmə strategiyalarından istifadə edərək normal fazalı kartuşla birlikdə SAX kartuşu ilə sürətlə təmizlənə bilər.Bundan əlavə, SepaBean™ maşınının idarəetmə proqramında quraşdırılmış tam dalğa uzunluğunda skan etmə funksiyasının köməyi ilə süzülmüş fraksiyaların xarakterik udma spektri asanlıqla müqayisə edilə və təsdiqlənə bilər, tədqiqatçılara süzülmüş fraksiyaların tərkibini və saflığını tez müəyyən etməyə kömək edir və beləliklə, iş səmərəliliyi.
| Maddə nömrəsi | Sütun Ölçüsü | Axın (ml/dəq) | Maks.Təzyiq (psi/bar) |
| SW-5001-004-IR | 5,9 q | 10-20 | 400/27.5 |
| SW-5001-012-IR | 23 q | 15-30 | 400/27.5 |
| SW-5001-025-IR | 38 q | 15-30 | 400/27.5 |
| SW-5001-040-IR | 55 q | 20-40 | 400/27.5 |
| SW-5001-080-IR | 122 q | 30-60 | 350/24.0 |
| SW-5001-120-IR | 180 q | 40-80 | 300/20.7 |
| SW-5001-220-IR | 340 q | 50-100 | 300/20.7 |
| SW-5001-330-IR | 475 q | 50-100 | 250/17.2
|
Cədvəl 2. SepaFlash Bonded Series SAX flaş kartricləri.Qablaşdırma materialları: Ultra təmiz qeyri-müntəzəm SAX ilə bağlanmış silisium, 40 - 63 μm, 60 Å.
SepaBean™-in ətraflı spesifikasiyası haqqında əlavə məlumat üçünmaşın və ya SepaFlash seriyası flaş kartricləri haqqında sifariş məlumatı üçün vebsaytımıza daxil olun.
Göndərmə vaxtı: 09 noyabr 2018-ci il